多功能X射线衍射仪-东莞理工学院分析测试中心

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￥2480000

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仪器介绍
(69)使用评价

固定资产编号：

19018371

中文名称：

多功能X射线衍射仪

英文名称：

Multifunctional X-ray Diffractometer

型号规格：

D8ADVACE

生产厂商：

Bruker

产地国别：

(276)德国

生产日期：

购买日期：

2019/12/8

仪器价值：

2480000

收费标准：

校内：常规测试170元/小时。掠入射100元/样。其他面议。校外：常规XRD普通快扫（＜10分钟)：100元/样， 10-20分钟150元/样， 20-30分钟200元/样；长时间扫描：400元/小时；掠入射300元/样。其他面议

仪器地址：

经管楼4B202

设备预约管理员：

敖晓娟

联系电话：

预约状态：

正常

院内可预约时间段：

院外可预约时间段：

详见预约页面

实验材料或方法特别要求说明：

亲自操作,委托测试 1. 粉末样品：颗粒度均匀，过300目筛； 2. 块状样品：直径小于50mm，厚度小于15mm，有平整测试面。 3. 薄膜样品：有边长为5-30mm的平整测试面。

详细介绍：

◆ 主要性能参数： 1. 测角仪转动范围：-1100～1680；测角仪半径：≥280 mm 1.5 可读最小步长：0.00010，角度重现性：0.00010；最高定位速度：12000/min 2. 探测器探测器计数通道：≥2800个；最大计数：≥1 x 109 cps；线性范围：≥1x108 cps；背景：＜0.1 cps 3.平行光路自动切换角度重复性为：2Theta = ± 0.0025°；聚焦光路角度重复性为：2Theta = ± 0.0025° ◆ 主要用途：材料物相鉴定、半定量成分分析、多晶体晶粒尺寸分析、固体表面残余应力分析等 ◆ 设备特点： 1. 采用智能虚拟测角仪全自动控制，硬件自动识别、自动纠错。 2. 确保所有子探测器全好，具有静态扫描功能，正常工作半径下最大2thea角 ≥ 3.7度。 3. 提供的半导体阵列探测器必须同时合适常规物相分析也适合薄膜反射率、小角散射二维测量，不需要更换其他探测器。

附件：

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评价时间： 2024/9/13 22:51:28


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评价时间： 2024/8/31 14:38:16


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评价时间： 2024/8/29 11:31:33


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评价时间： 2024/8/26 23:25:47


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评价时间： 2024/8/22 12:29:11


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评价时间： 2024/8/1 16:43:39


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评价时间： 2024/7/16 22:23:42


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评价时间： 2024/7/16 14:34:45


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