X射线吸收精细结构谱仪-东莞理工学院分析测试中心

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￥4500000

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仪器介绍
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固定资产编号：

20260506

中文名称：

X射线吸收精细结构谱仪

英文名称：

X-ray Absorption Fine Structure

型号规格：

RapidXAFS 2M

生产厂商：

产地国别：

生产日期：

购买日期：

仪器价值：

4500000

收费标准：

亲自上机限超级用户预约，收费时长包括I0+Foil/标样+样品测试时长，其中样品测试时长依待测元素含量等因素不同而异，最终收费以实际时长为准。多个样品测同一元素，批量送样，可共用I0+Foil。

仪器地址：

新区2栋2A118

设备预约管理员：

张晓燕

联系电话：

预约状态：

正常

院内可预约时间段：

院外可预约时间段：

工作日9:00-17:00

实验材料或方法特别要求说明：

用SAMPLEM4M软件先算好所需样品质量。如样品量不足压片，请加BN或PVDF一起研磨后压制成片（10-13mm），建议制备不同质量多个样品一起送样进行粗扫。请预约足够的机时，无法确定预约时长的，请先邮件联系设备管理员咨询。

详细介绍：

X射线吸收精细结构谱仪是一种基于实验室级X射线源的先进结构表征技术，通过精确测量材料对X射线的吸收系数随能量的变化，解析材料的局域原子结构和电子态信息。该技术主要包括：

1. X射线近边吸收谱（XANES）：可获取吸收原子的电子结构、化学价态及配位对称性；

2. 扩展边吸收谱（EXAFS）：可精确测定原子间距、配位数及无序度等结构参数。

XAFS技术具有以下突出优点：（1）不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；（2）不受其他元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；（3）对样品无破坏，可进行原位测试；（4）可测量固体粉末、液体、薄膜等；（5）能获得高精度配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，原子间距精确度可达0.01 Å。

附件：

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