球差校正透射电子显微镜-东莞理工学院分析测试中心

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￥20000000

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仪器介绍
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固定资产编号：

1111

中文名称：

球差校正透射电子显微镜

英文名称：

Aberration-corrected Scanning Transmission Electron Microscope

型号规格：

JEOL JEM ARM200F

生产厂商：

日本电子

产地国别：

生产日期：

购买日期：

仪器价值：

20000000

收费标准：

校内用户：自主上机:800元/小时;委托测试:1000元/小时; 校外用户：委托测试:2000元/小时。

仪器地址：

新区2栋2A111

设备预约管理员：

韩梦娇张坚洪

联系电话：

预约状态：

正常

院内可预约时间段：

院外可预约时间段：

周一到周五 9:00-17:00 请至少提前12小时预约。如需取消预约，请至少提前2小时在预约系统取消。

实验材料或方法特别要求说明：

1. 实验材料：如块体样品、粉末样品、二维材料、水氧敏感材料、电子束敏感材料等。注意：如果样品具有磁性请务必提前说明！！！ 2. 实验方法：如TEM高分辨、HAADF、ABF、DPC、能谱、二次电子像等。 3. 前处理：委托样品制备请提前联系。

详细介绍：

球差校正透射电子显微镜 JEOL JEM ARM200F 是分析测试中心面向材料科学、化学、物理、能源、环境、电子信息等学科方向建设的高端微观结构表征设备。

JEOL ARM200F 搭载冷场发射电子枪与 ASCOR 高阶球差校正系统，设备加速电压范围 80–200 kV，在 200 kV 工况下 STEM-HAADF 分辨率可达 78 pm，可直接观测原子晶格排布、界面结构、微观缺陷，突破传统电镜分辨率极限，同时低压模式能大幅降低电子束对二维材料、有机、生物等敏感样品的损伤。

电镜配备的聚光镜球差校正器，可校正五阶高阶像差，搭配 COSMO 自动像差校正软件，无需标准样品即可快速完成校正，显著提升原子成像效率与稳定性。

成像系统支持 TEM 明场、选区电子衍射，以及 HAADF、ABF、BF 等多种 STEM 成像模式，此外，电镜还配备了SAAF全场相位衬度探测器（OBF、BF、DF、DPC、ABF、e-ABF、电场、磁场成像），依托增强型 ABF 技术可清晰观测氢、氧、硼等轻元素原子列，填补了常规电镜轻元素表征短板，并且能够进行原子级别的电场分布分析。

设备还配备了二次电子探测器，可进行SEI二次电子成像，图像分辨率为1nm，在透射图像观察同时表征表面形貌。

设备配备大窗口无窗式 SDD 能谱探测器，可实现原子尺度元素面分布、定量成分分析，精准定位催化剂活性位点、锂电池界面元素偏析、半导体薄膜掺杂分布等微观信息。

设备配有洛伦茨模式，可进行铁磁性样品的微观磁畴观察。

该仪器以高稳定性电子束、高分辨透射成像和球差校正技术为核心，可用于材料原子尺度结构及成分分析，为科研人员研究材料结构、组成、缺陷及性能关系提供重要支撑。

附件：

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